PicoFemto透射電鏡TEM冷凍樣品桿

PicoFemto透射電鏡TEM冷凍樣品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測(cè)樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對(duì)樣品的損傷，同時(shí)也能研究材料的低溫結(jié)構(gòu)。透射電子顯微鏡原位加熱/電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)安裝MEMS工藝制成的微加熱芯片和電學(xué)測(cè)量芯片。微加熱芯片可對(duì)樣品進(jìn)行可控溫度的加熱，電學(xué)測(cè)量芯片可對(duì)樣品進(jìn)行電性質(zhì)測(cè)量。并可在進(jìn)行加熱和電學(xué)測(cè)量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
     TEM冷凍樣品桿性能指標(biāo)：

● 兼容型號(hào)電鏡及極靴；

● 保證電鏡真空度；

● 溫度變化范圍：低至85 K；

● 可選高傾角版本。

• 部分國內(nèi)用戶

  

  部分國外用戶